1、本发明涉及一种用于电子元器件的检测设备,尤其是一种用于对电子元器件进行表面清洁度检测的设备。
2、背景技术:现有的电子元器件在生产过程中需要经历焊接、印刷、组装等工序,这些工序都会使得电子元器件的表面受到污染,导致电子元器件的性能下降或者不稳定,因此必须对电子元器件进行表面清洁度检测。但是目前市场上没有专门针对电子元器件的表面清洁度检测的仪器,而且由于现有的电子元器件大多数为精密器件,普通的检测方法无法达到检测效果,所以迫切需要一种可以实现对电子元器件表面清洁度检测的设备。
3、发明内容
cp292023
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